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Dry Etching and Ashing Residue
EcoPeeler™ Application
◇ エッチング・アッシング残渣除去
◇ Gate cleaning
EcoPeeler™の基盤技術である標的反応制御技術と、Etchant Controlling Technologyを組み合わせ、ゲート形成プロセスのエッチング・アッシング残渣を効果的に除去する薬液です。
ゲート材料に対するダメージが極めて小さく、ドーパント濃度の高い領域に対するダメージも極めて小さいことが特徴です。
適応材料 | : |
Si、Poly-Si、Doped-Si、α-Si、TEOS、P-SiO、SOG、 PSG、BPSG、SiN、ALD-SiN、SiON、SiCN、TiN、Ti、 TaN、Ta、W、WSi、WN、HfSiO2、HfSiON、HfO2など |
主な機能 | : |
ドライエッチング残渣、アッシング残渣の除去 異物・汚染の除去 |
付加機能 | : |
層間絶縁膜のエッチングレートの精密制御 適応材料間のエッチング選択性の制御 |
対応薬液 | : |
EcoPeeler™ SE-700シリーズ
EcoPeeler™ KF5000 Cleanシリーズ EcoPeeler™ SN-05シリーズ |
適応材料 | : |
Si、Poly-Si、Doped-Si、α-Si、TEOS、P-SiO、SOG、 PSG、BPSG、SiN、ALD-SiN、SiON、SiCN、TiN、Ti、 TaN、Ta、W、WSi、WN、HfSiO2、HfSiON、HfO2など |
主な機能 | : |
ゲート周辺のダメージレス洗浄 異物・汚染の除去 |
付加機能 | : | ゲート構成材料に対するダメージレス化 |
対応薬液 | : |
EcoPeeler™ KF1000シリーズ
EcoPeeler™ KF5000シリーズ EcoPeeler™ KF5000 Cleanシリーズ EcoPeeler™ KF6000 Cleanシリーズ EcoPeeler™ SN-300シリーズ EcoPeeler™ NZMシリーズ |